РАГС - РОССИЙСКИЙ АРХИВ ГОСУДАРСТВЕННЫХ СТАНДАРТОВ,
а также строительных норм и правил (СНиП)
и образцов юридических документов







ГОСТ 26239.5-84

Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей

Обозначение:ГОСТ 26239.5-84
Статус:действующий
Тип:ГОСТ
Название русское:Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей
Название английское:Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination
Дата актуализации текста:06.04.2015
Дата актуализации описания:01.07.2023
Дата регистрации:00.00.0000
Дата издания:21.01.1985
Дата введения в действие:01.01.1986
Область и условия применения:Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце. Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01
Список изменений:№1 от (рег. ) «Срок действия продлен»
Расположен в:
Приложение №0:Изменение №1 к ГОСТ 26239.5-84
ГОСТ 26239.5-84. Страница 1
ГОСТ 26239.5-84. Страница 2
ГОСТ 26239.5-84. Страница 3
ГОСТ 26239.5-84. Страница 4
ГОСТ 26239.5-84. Страница 5
ГОСТ 26239.5-84. Страница 6
ГОСТ 26239.5-84. Страница 7
ГОСТ 26239.5-84. Страница 8
ГОСТ 26239.5-84. Страница 9
ГОСТ 26239.5-84. Страница 10
ГОСТ 26239.5-84. Страница 11
ГОСТ 26239.5-84. Страница 12
ГОСТ 26239.5-84. Страница 13
ГОСТ 26239.5-84. Страница 14
ГОСТ 26239.5-84. Страница 15
ГОСТ 26239.5-84. Страница 16
ГОСТ 26239.5-84. Страница 17
ГОСТ 26239.5-84. Страница 18

Приложение к ГОСТу

Изменение №1 к ГОСТ 26239.5-84

Обозначение:Изменение №1 к ГОСТ 26239.5-84
Дата введения в действие:01.01.1991
Текст поправки интегрирован в текст или описание стандарта.

Вернуться в "Каталог государственных стандартов" (ГОСТ)