РАГС - РОССИЙСКИЙ АРХИВ ГОСУДАРСТВЕННЫХ СТАНДАРТОВ,
а также строительных норм и правил (СНиП)
и образцов юридических документов


Произвольная ссылка:


Каталог государственных стандартов РФ

Актуальность базы: 01.06.2024, объем: 50,341 документа(ов)

Для отображения списка документов выберите категорию из классификатора каталога ГОСТов.
Чтобы отобразить подкатегории классификатора, кликните по иконке со знаком плюс
и дождитесь подгрузки подкатегорий в нижней части экрана.
Если наименование ГОСТа заранее известно, можете воспользоваться формой поиска ниже.
Полный перечень ГОСТ в базе (алфавитный порядок)

Классификатор каталога

Поиск: Где искать:
Отображать: Упорядочить:
везде в текущем разделе
Страницы: 12показано 15 из 28
№ Номер Название Дата введения Статус
1 ГОСТ 14343-69 Диоды полупроводниковые типов Д223, Д223А, Д223Б для устройств широкого применения 01.01.1970 отменён
 
Англ. название: Semiconductors diodes types of Д 223, Д 223a, Д 223Б for widely used devices
Нормативные ссылки: ГОСТ 18696.3-73;ГОСТ 18696.1-73;ГОСТ 11630-70;ГОСТ 16962-71;ГОСТ 1499-70;ГОСТ 10863-70
2 ГОСТ 15606-70 Диоды туннельные типов АИ301А, АИ301Б, АИ301В, АИ301 Г для устройств широкого применения 01.01.1971 отменён
 
Англ. название: Tunnel diodes. Types aИ301a, aИ301, aИ301b, aИ301Г for widely used devices
Нормативные ссылки: ГОСТ 11630-70;ГОСТ 10863-70
3 ГОСТ 18986.0-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения 01.01.1976 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Measuring methods for electrical parameters. General requirements
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды: выпрямительные, универсальные, испульсные, туннельные, варикапы, стабилизаторы, генераторы шума и диоды СВЧ ( в части низкочастотных и статических параметров) и устанавливает общие требования для методов измерения электрических параметров
Нормативные ссылки: ГОСТ 12.0.004-90;ГОСТ 12.1.004-91;ГОСТ 12.1.030-81;ГОСТ 12.2.007.0-75;ГОСТ 12.3.019-80;ГОСТ 20.57.406-81;СТ СЭВ 1622-79
4 ГОСТ 18986.1-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока 01.01.1975 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Method for measuring direct reverse current
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения постоянного обратного тока. Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки
Нормативные ссылки: ГОСТ 10963-64СТ СЭВ 2769-80IEC 60147-2B;ГОСТ 18986.0-74
5 ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока 01.01.1975 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока. Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки
Нормативные ссылки: ГОСТ 10961-64СТ СЭВ 2769-80IEC 60147-23;ГОСТ 18986.0-74
6 ГОСТ 18986.4-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости 01.01.1975 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод
Нормативные ссылки: ГОСТ 10964-64СТ СЭВ 2769-80IEC 60147-2M;ГОСТ 18986.0-74
7 ГОСТ 18986.5-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения 01.01.1975 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Method for measuring transition time
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения
Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 19656.0-74
8 ГОСТ 18986.6-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления 01.01.1975 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления
Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3198-81ГОСТ 18986.0-74
9 ГОСТ 18986.7-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда 01.01.1975 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Methods for measuring life time
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ. Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ
Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 18986.6-73;ГОСТ 19656.0-74
10 ГОСТ 18986.9-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления 01.01.1975 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Method for measuring pulse direct voltage and forword recovery time
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
Нормативные ссылки: ГОСТ 10965-64ГОСТ 18986.0-74;СТ СЭВ 3198-81
11 ГОСТ 18986.12-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода 01.07.1976 действующий
 
Англ. название: Semiconductor tunnel diodes. Method for measuring negative conductance of the intrinsic diode
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения отрицательной проводимости
Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 18986.11-74
12 ГОСТ 18986.13-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора 01.07.1976 действующий
 
Англ. название: Semiconductor tunnel diodes. Methods for measuring peak point current, valley point current, peak point voltage, valley point voltage, projected peak point voltage
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения параметров вольтамперной характеристики диода: пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора
Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74
13 ГОСТ 18986.16-72 Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока 01.01.1974 действующий
 
Англ. название: Rectifier diodes. Methods of measuring average forward voltage and average reverse current
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые выпрямительные диоды малой и средней мощности, полупроводниковые выпрямительные столбы и устанавливает метод измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока
Нормативные ссылки: IEC 60147-2A;ГОСТ 18986.0-74
14 ГОСТ 19656.0-74 Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения электрических параметров. Общие положения 01.07.1975 действующий
 
Англ. название: Semiconductor UHF diodes. Measurement methods of electrical parameters. General conditions
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ и устанавливает общие положения при измерениях электрических параметров на сверхвысоких частотах
Нормативные ссылки: СТ СЭВ 1622-79;СТ СЭВ 3408-81ГОСТ 10863-70;ГОСТ 11294-74
15 ГОСТ 19656.1-74 Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Метод измерения коэффициента стоячей волны по напряжению 01.07.1975 действующий
 
Англ. название: Semiconductor UHF mixer and detector diodes. Measurement method of voltage standing-wave ratio
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ смесительные и детекторные и устанавливает метод измерения коэффициента стоячей волны по напряжению в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц
Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3408-81ГОСТ 19656.0-74
Страницы: 12показано 15 из 28

Вернуться в "Каталог государственных стандартов" (ГОСТ)