Для отображения списка документов выберите категорию из классификатора каталога ГОСТов.
Чтобы отобразить подкатегории классификатора, кликните по иконке со знаком плюс
и дождитесь подгрузки подкатегорий в нижней части экрана.
Если наименование ГОСТа заранее известно, можете воспользоваться формой поиска ниже. Полный перечень ГОСТ в базе (алфавитный порядок)
Англ. название: Electromagnetic compatibility of technical equipment. Semicondactor microvawe oscillator devices and modules. List of EMC parameters and requirements for them. Methods of measurement
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на генераторные электронные приборы и модули СВЧ непрерывного действия на основе полупроводниковых приборов СВЧ - лавинно-пролетных диодов, диодов Гана, биполярных и полевых транзисторов, предназначенные для применения в технических средствах (ТС) народно-хозяйственного назначения. Требования настоящего стандарта являются обязательными для применения при разработке и поставке потребителю полупроводниковых генераторных приборов и модулей СВЧ предприятиями и объединениями предприятий РФ независимо от форм собственности
Нормативные ссылки: ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 16842-82;ГОСТ 20271.1-91;ГОСТ 23221-79;ГОСТ 23611-79;ГОСТ 23769-79;ГОСТ 29179-91;ГОСТ Р 50397-92;ГОСТ Р 50416-92;Нормы 18-85
Область применения: Настоящий стандарт устанавливает единые требования к измерению затухания сигнала в оптическом волокне, обеспечивая проверку соответствия волокон и кабелей целям коммерческого использования. В настоящем стандарте приведены четыре метода для измерения затухания, один из которых предназначен для моделирования спектрального затухания: - метод А: метод обрыва; - метод В: метод вносимых потерь; - метод С: метод обратного рассеяния; - метод D: метод моделирования спектрального затухания. Методы А, В и С применяют для измерения затухания всех типов следующих волокон: - многомодовых волокон класса А; - одномодовых волокон класса В. Методом обратного рассеяния С также определяют распределение, вносимые потери и характеристики точечных дефектов. В настоящее время метод D применяют только для волокон класса В