Для отображения списка документов выберите категорию из классификатора каталога ГОСТов.
Чтобы отобразить подкатегории классификатора, кликните по иконке со знаком плюс
и дождитесь подгрузки подкатегорий в нижней части экрана.
Если наименование ГОСТа заранее известно, можете воспользоваться формой поиска ниже. Полный перечень ГОСТ в базе (алфавитный порядок)
Англ. название: Niobium. Spectral method for the determination of silicon, titanium and iron
Область применения: Настоящий стандарт устанавливает спектральный метод определения кремния (от 0,003 до 0,03%), титана (от 0,003 до 0,1%) и железа (от 0,003 до 0,08%)
Англ. название: Niobium. Method for the determination of tantalum
Область применения: Настоящий стандарт устанавливает экстракционно-фотометрический метод определения тантала (от 0,06 до 0,45%). Метод основан на экстракции фторотанталата кристаллического фиолетового смесью толуола и ацетона из сульфатно-тартратной среды и фотометрировании экстракта
Англ. название: Niobium. Method for tne determination of silicon
Область применения: Настоящий стандарт устанавливает атомно-абсорбционный метод определения кремния в металлическом ниобии от 1х10 (в степени минус 4) до 1х10 (в степени минус 2)%. Метод основан на электротермической атомизации кремния при непосредственной загрузке металлического образца ниобия в печь атомизатора (кювету)
Англ. название: Niobium. Spectral method for the determination of the tungsten, molybdenum
Область применения: Настоящий стандарт устанавливает спектральный метод определения вольфрама и молибдена от 0,002 до 0,05 %. Метод основан на зависимости интенсивности спектральных линий вольфрама и молибдена от их массовой доли в анализируемой пробе при возбуждении спектра в дуге постоянного тока
Англ. название: Niobium. Spectral method for the determination of tantalum
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на спектральный метод определения массовой доли тантала в слитках ниобия от 0,05 до 1%. Метод основан на зависимости интенсивности спектральной линии тантала от его массовой доли в образце при возбуждении спектра в дуге переменного тока (в режиме низковольная искра)
