ГОСТ 8.171-75

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия

Обозначение:	ГОСТ 8.171-75
Статус:	действующий
Тип:	ГОСТ
Название русское:	Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия
Название английское:	State system of ensuring the uniformity of measurements. Actual measures of the surface density for radiation thickness gauges. General specifications
Дата актуализации текста:	06.04.2015
Дата актуализации описания:	01.07.2023
Дата регистрации:	00.00.0000
Дата издания:	10.11.1975
Дата введения в действие:	01.01.1977
Область и условия применения:	Настоящий стандарт распространяется на меры поверхностной плотности, предназначенные для воспроизведения единицы поверхностной плотности листовых и ленточных материалов в диапазоне от 2 до 30000 г/м кв. на площади от 5 до 600 см кв
Список изменений:	№1 от (рег. ) «Срок действия продлен» №2 от (рег. ) «Срок действия продлен» №3 от (рег. ) «Срок действия продлен»
Расположен в:	Общероссийский классификатор стандартов → Метрология и измерения. Физические явления → Линейные и угловые измерения → Измерительные приборы Классификатор государственных стандартов → Общетехнические и организационно-методические стандарты → Государственная система измерений → Методики поверки и метрологической аттестации Тематические сборники → Государственная система обеспечения единства измерений.
Приложение №0:	Изменение №1 к ГОСТ 8.171-75
Приложение №1:	Изменение №2 к ГОСТ 8.171-75
Приложение №2:	Изменение №3 к ГОСТ 8.171-75