РАГС - РОССИЙСКИЙ АРХИВ ГОСУДАРСТВЕННЫХ СТАНДАРТОВ, а также строительных норм и правил (СНиП)
и образцов юридических документов
Произвольная ссылка:
ГОСТ 8.593-2009
Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки
Обозначение:
ГОСТ 8.593-2009
Статус:
действующий
Тип:
ГОСТ
Название русское:
Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки
Название английское:
State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe microscopes. Method for verification
Дата актуализации текста:
01.01.2021
Дата актуализации описания:
01.07.2023
Дата регистрации:
11.11.2009
Дата издания:
09.12.2019
Дата введения в действие:
01.11.2010
Область и условия применения:
Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус шесть) м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592
