РАГС - РОССИЙСКИЙ АРХИВ ГОСУДАРСТВЕННЫХ СТАНДАРТОВ, а также строительных норм и правил (СНиП)
и образцов юридических документов
Произвольная ссылка:
ГОСТ Р 59743.2-2022
Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта
Обозначение:
ГОСТ Р 59743.2-2022
Статус:
действующий
Тип:
ГОСТ Р
Название русское:
Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта
Название английское:
Optics and photonics. Microlens array. Part 2. Test methods for wavefront aberrations
Дата актуализации текста:
01.01.2023
Дата актуализации описания:
01.07.2023
Дата регистрации:
00.00.0000
Дата издания:
01.08.2022
Дата введения в действие:
01.03.2023
Область и условия применения:
Настоящий стандарт распространяется на матрицы микролинз с линзами, образованными внутри или на одной, или более поверхностях общей подложки, и устанавливает методы измерений аберраций волнового фронта матриц микролинз