Для отображения списка документов выберите категорию из классификатора каталога ГОСТов.
Чтобы отобразить подкатегории классификатора, кликните по иконке со знаком плюс
и дождитесь подгрузки подкатегорий в нижней части экрана.
Если наименование ГОСТа заранее известно, можете воспользоваться формой поиска ниже. Полный перечень ГОСТ в базе (алфавитный порядок)
Англ. название: Integrated circuits. Terms, definitions and letter symbols of electrical parameters
Область применения: Настоящий стандарт устанавливает термины, определения и буквенные обозначения электрических параметров интегральных микросхем, включая гибридные микросхемы, многокристальные модули и микросборки. Термины и буквенные обозначения, установленные настоящим стандартом, рекомендуются для применения во всех видах документации и литературы, входящих в сферу действия работ по стандартизации и (или) использующих результаты этих работ
Англ. название: Monolithic microwave integrated circuits. Terms and definitions
Область применения: Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий в области монолитных интегральных схем (далее – МИС) сверхвысокочастотного диапазона, применяемых в радиоэлектронной аппаратуре. Термины, установленные настоящим стандартом, рекомендуются для применения во всех видах документации на МИС, входящих в сферу работ по стандартизации и/или использующих результаты этих работ
Англ. название: Monolithic microwave integrated circuits. Classification and system of designations
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые монолитные интегральные схемы (далее — МИС) сверхвысокочастотного диапазона, применяемые в радиоэлектронной аппаратуре, и устанавливает их классификацию и систему условных обозначений. Настоящий стандарт предназначен для применения предприятиями, организациями и другими субъектами научной и хозяйственной деятельности независимо от форм собственности и подчинения, а также федеральными органами исполнительной власти Российской Федерации, участвующими в разработке, производстве и эксплуатации МИС в соответствии с действующим законодательством
Англ. название: Monolithic microwave integrated circuits. Parameter system
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на монолитные интегральные схемы (далее - МИС) сверхвысокочастотного диапазона и устанавливает состав электрических, эксплуатационных параметров, их буквенные обозначения и способы задания норм. Термины и буквенные обозначения параметров, установленные настоящим стандартом, рекомендуются для применения во всех видах документации и литературы, входящих в сферу работ по стандартизации или использующих результаты этих работ
Англ. название: Integrated circuits. Switches and keys. Parameter system
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые интегральные микросхемы коммутаторов и ключей (далее – микросхемы) и устанавливает систему параметров, подлежащих включению в общие технические условия (ОТУ) и технические условия (ТУ) на микросхемы конкретных типов при их разработке или пересмотре. Стандарт следует применять для выбора параметров при разработке технических заданий на научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы, программ испытаний опытных образцов. Настоящий стандарт предназначен для применения предприятиями, организациями и другими субъектами научной и хозяйственной деятельности независимо от форм собственности и подчинения, а также федеральными органами исполнительной власти Российской Федерации, участвующими в разработке, производстве, эксплуатации микросхем в соответствии с действующим законодательством. Функциональные схемы микросхем ключей и коммутаторов приведены в приложении А
Англ. название: Integrated circuits. Terms, definitions and letter symbols of digital-to-analog andanalog-to-digital converters
Область применения: Настоящий стандарт устанавливает термины, определения и буквенные обозначения понятий в области интегральных микросхем линейных цифро-аналоговых и аналого-цифровых преобразователей (далее ЦАП и АЦП), применяемых в радиоэлектронной аппаратуре. Термины и буквенные обозначения, установленные настоящим стандартом, предназначены для применения во всех видах документации и литературы в области интегральных микросхем линейных ЦАП и АЦП, входящих в сферу действия работ по стандартизации и (или) использующих результаты этих работ. Параметры характеристики преобразования, используемые при определении параметров ЦАП и АЦП, приведены в приложении А
Англ. название: Integrated circuits based on master chips. Terms and definitions
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы на основе базовых кристаллов, применяемые в радиоэлектронной аппаратуре, и устанавливает термины и определения понятий в области интегральных микросхем. Термины, установленные настоящим стандартом, предназначены для применения во всех видах документации и литературы в области интегральных микросхем на основе базовых кристаллов, входящих в сферу работ по стандартизации и (или) использующих результаты этих работ
Англ. название: Integrated circuits. Operational amplifiers. Parameters system
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые интегральные микросхемы операционных усилителей (далее – микросхемы). Стандарт устанавливает состав параметров и типовых характеристик микросхем, подлежащих включению в технические условия (ТУ) или стандарты на микросхемы при их разработке или пересмотре. Стандарт следует применять для выбора параметров при разработке технических заданий на научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы, программ испытаний опытных образцов
Англ. название: Integrated microprocessor circuit. Parameters system
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые интегральные микропроцессорные микросхемы и устанавливает состав параметров и типовых характеристик интегральных микропроцессорных микросхемы, (далее – микросхемы), подлежащие включению в технические условия (ТУ) или стандарты на микросхемы конкретных типов при их разработке или пересмотре. Настоящий стандарт следует применять для выбора параметров при разработке технических заданий на научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы, программ испытаний опытных образцов. Настоящий стандарт предназначен для применения предприятиями, организациями и другими субъектами научной и хозяйственной деятельности независимо от форм собственности и подчинения, а также федеральными органами исполнительной власти Российской Федерации, участвующими в разработке, производстве, эксплуатации микросхем в соответствии с действующим законодательством
Англ. название: Integrated circuits. Delay circuits. Parameters system
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые интегральные микросхемы схем задержек (далее – микросхемы). Стандарт устанавливает состав параметров и типовых характеристик микросхем, подлежащих включению в технические условия (ТУ) или стандарты на микросхемы при их разработке или пересмотре. Стандарт следует применять для выбора параметров при разработке технических заданий на научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы, программ испытаний опытных образцов
Англ. название: Integrated circuits. Magnetic bubble integrated circuits memory. Terms, definitions and letter symbols characteristics
Область применения: Настоящий стандарт устанавливает термины, определения и буквенные обозначения параметров интегральных микросхем запоминающих устройств на цилиндрических магнитных доменах (далее – микросхемы ЗУ ЦМД), применяемых в радиоэлектронной аппаратуре. Термины и буквенные обозначения, установленные настоящим стандартом, предназначены для применения во всех видах документации и литературы в области интегральных микросхем ЗУ ЦМД, входящих в сферу действия работ по стандартизации и (или) использующих результаты этих работ
Англ. название: Semiconductor devices integrated circuits. Part 11. Section 1. Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
Область применения: Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов