РАГС - РОССИЙСКИЙ АРХИВ ГОСУДАРСТВЕННЫХ СТАНДАРТОВ,
а также строительных норм и правил (СНиП)
и образцов юридических документов


Произвольная ссылка:


ГОСТ 18986.7-73

Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда

Обозначение:ГОСТ 18986.7-73
Статус:действующий
Тип:ГОСТ
Название русское:Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
Название английское:Semiconductor diodes. Methods for measuring life time
Дата актуализации текста:06.04.2015
Дата актуализации описания:01.07.2023
Дата регистрации:00.00.0000
Дата издания:01.05.2004
Дата введения в действие:01.01.1975
Область и условия применения:Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ. Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ
Список изменений:№0 от (рег. ) «Срок действия продлен»
№1 от (рег. ) «Срок действия продлен»
Расположен в:
Приложение №0:Изменение №1 к ГОСТ 18986.7-73
ГОСТ 18986.7-73. Страница 1
ГОСТ 18986.7-73. Страница 2
ГОСТ 18986.7-73. Страница 3
ГОСТ 18986.7-73. Страница 4
ГОСТ 18986.7-73. Страница 5
ГОСТ 18986.7-73. Страница 6

Приложение к ГОСТу

Изменение №1 к ГОСТ 18986.7-73

Обозначение:Изменение №1 к ГОСТ 18986.7-73
Дата введения в действие:01.02.1983
Текст поправки интегрирован в текст или описание стандарта.

Вернуться в "Каталог государственных стандартов" (ГОСТ)